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產(chǎn)品時間:2024-09-07
簡要描述:日本hrd-thermal可視化熱成像范圍TSI提高能源效率是節(jié)約能源的重要主題。著眼于電子設(shè)備的功耗問題,該設(shè)備可以通過可視化和量化設(shè)備內(nèi)部的熱特性來評估界面的熱擴(kuò)散率。此外,鉆石和DLC的導(dǎo)熱系數(shù)高,可以節(jié)省能源,但評估允許熱量從其界面逸出的熱擴(kuò)散系數(shù)非常重要。此外,據(jù)說這些物質(zhì)之間的界面的粘附性影響性能。該裝置旨在評估熱量對界面的附著力。
日本hrd-thermal可視化熱成像范圍TSI
提高能源效率是節(jié)約能源的重要主題。著眼于電子設(shè)備的功耗問題,該設(shè)備可以通過可視化和量化設(shè)備內(nèi)部的熱特性來評估界面的熱擴(kuò)散率。此外,鉆石和DLC的導(dǎo)熱系數(shù)高,可以節(jié)省能源,但評估允許熱量從其界面逸出的熱擴(kuò)散系數(shù)非常重要。此外,據(jù)說這些物質(zhì)之間的界面的粘附性影響性能。該裝置旨在評估熱量對界面的附著力。
日本hrd-thermal可視化熱成像范圍TSI
TSI-2 | ||
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基本表現(xiàn) | 測量目標(biāo) | 樣品缺陷,異質(zhì)性,紅外輻射亮度,簡單的溫度,熱特性 |
輸出數(shù)據(jù) | 頻率,距離,幅度,相位,亮度,圖像數(shù)據(jù) | |
分析模式 | 點(diǎn)/區(qū)域分析,相位分析 | |
附加其他 | 溫度調(diào)制加熱器,控制/分析軟件,PC | |
測量環(huán)境 | 溫度 | 室溫?250 [℃] |
測量頻率 | 0.1-10 [Hz] | |
紅外攝像機(jī) | 元素?cái)?shù) | 336 x 256 |
元素類型 | VOx微測輻射熱儀 | |
像素大小 | 17 [微米] | |
觀察波段 | 7.5至13.5 [μm] | |
幀率 | 30 [Hz] | |
解析度 | 約30 [μm] | |
半導(dǎo)體激光器(連續(xù)振蕩) | 波長 | 808 [納米] |
大輸出 | 5 [W] | |
正弦波調(diào)制 | 0.1至30 [Hz] | |
舞臺動作范圍 | 水平(XY軸)方向 | ±15 [毫米] |
垂直(Z軸)方向 | +50 [mm] | |
電源供應(yīng) | AC100-240 [V],10-5 [A],50/60 [Hz] | |
設(shè)備主體 | 外形尺寸 | 寬552 x深602 x高657 [mm] |
重量 | 76.5 [公斤] | |
激光安全標(biāo)準(zhǔn) | CLASS1,IEC / EN 60825-1:2007 |
TSI-2 | X射線探傷 | 超聲波顯微鏡 | |
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得到什么對比? | ○導(dǎo)熱系數(shù)的差異(可以進(jìn)行前suo未有的觀察) | ○X射線透過量 | ○超聲波反射或速度差異 |
樣品處理 | ◎不需要 | ◎不需要 | △需要淹沒 |
解析度 | △約20μm | ◎1微米 | ○1μm(但是,與觀察深度存在取舍關(guān)系) |
滲透 | △適合在地面附近觀察。 | ◎高。可以使用CT方法。(金屬很難穿透) | △根據(jù)頻率而變化。分辨率也會改變。 |
觀察范圍 | ◎更換方便。廣泛的支持 | △由于安全原因,觀察范圍受到限制。 | △安裝在水箱中。需要掃描。觀察范圍是有限的。 |
觀察時間 | ◎?qū)崟r | ◎?qū)崟r | △需要掃描 |