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便攜式全內(nèi)反射熒光X射線分析儀“OURSTEX200TX”的原理及運用介紹

發(fā)布時間:2024-11-04 點擊量:85

便攜式全內(nèi)反射熒光X射線分析儀“OURSTEX200TX"的原理及運用介紹


測量原理

200TX測量原理
X 射線熒光光譜法 全內(nèi)反射 X 射線熒光光譜法

全內(nèi)反射X射線熒光光譜法與普通X射線熒光光譜法的不同之處在于,光線以低于全反射臨界角的低角度入射到樣品表面,因此不會穿透樣品臺基板,可以由于不產(chǎn)生散射 X 射線,因此可以進行超痕量分析。

image.png

  測量示例1(溶液分析)

解決方案分析
含有 Sc、Cr、Co、As 和 Sr 各 1 ng 的熒光 X 射線光譜

  測量示例2(毛發(fā)分析)

頭發(fā)分析
30多歲男性頭發(fā)熒光X射線光譜


【特征】 ●媲美ICP/原子吸收光譜儀的高靈敏度 ●主機總重僅8kg ●可進行ppm至ppb級別的分析 ●無需液氮或冷卻水 

[應用] ●用于測試井水和河流 ●用于分析土壤和玩具中的瀝濾水 ●用于食品、制藥、法醫(yī)學領(lǐng)域的現(xiàn)場分析


應用實例

  • 毛發(fā)成分分析

  • 藥品分析(感冒藥)

  • 雨水分析

  • 混合標準溶液的分析

  • 指紋成分分析

  • 空氣顆粒物分析

OURSTEX200TX規(guī)格

 

測量原理 全內(nèi)反射X射線熒光光譜法
測量目標 液體、飲用水、土壤滲濾液、污水等
測量元件 13Al~92U
狹縫機構(gòu) X射線路波路
樣品臺 石英光學平板
設(shè)備重量 約8公斤
樣品室氣氛 氣氛
X射線額定輸出 0-48kV,最大0.2mA /48-50kV,最大0.175mA
探測器 電子冷卻 SDD
計數(shù)電路 數(shù)字處理方法(數(shù)字信號處理器)
測量條件 溫度:5-27℃
濕度:20-75%
電源:AC100V,5A
設(shè)備:D級安裝
其他選項 噴墨彩色打印機、鼠標等

*引進OURSTEX200TX時,需提前向勞動基準監(jiān)督署通報。