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X射線薄膜測厚儀的檢測原理及優(yōu)勢

發(fā)布時間:2022-03-11 點擊量:1571

X射線薄膜測厚儀的檢測原理及優(yōu)勢

測厚儀(薄膜測厚儀)使用軟X射線(soft X-rays)。以非接觸方式(軟 X 射線)測量片材和板狀物體的厚度和密度(基重)。不是直接測量厚度,而是通過與參考材料比較來計算厚度和密度(基重)。
 通常,為了測量片材寬度方向的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶并測量。激光位移計一般用作非接觸式測量厚度的手段,但如果將激光位移計安裝在掃描儀上,則在運輸過程中只能以遠低于激光位移計的精度進行運輸。運輸,導致結果。高精度的測量是困難的。
 另一方面,在X射線測厚儀等通過透射衰減估算厚度的方法中,測量的是空氣層-樣品-空氣層與透射之間的衰減,但樣品的衰減遠大于,傳輸?shù)挠绊懼槐憩F(xiàn)為空氣層厚度的變化,影響較小。因此,可以高精度地測量。

X 射線測厚儀的一般特點

  1. 無需規(guī)定放射線處理負責人或X射線工作負責人或設置控制區(qū)域
    (需要通知勞動標準檢查辦公室)

  2. 路徑錯誤可以忽略

  3. 元素依賴性大


與傳統(tǒng)的軟 X 射線測厚儀相比,我們的軟 X 射線測厚儀的特點

  1. 探測器和 X 射線源結構緊湊、重量輕,甚至可以安裝在狹窄的線路中。

  2. 寬測量范圍(材料/厚度)


采用

  • 銅箔、鋁箔、不銹鋼箔

  • 電池電極

  • 陶瓷(片材、晶片)

  • 玻璃纖維布